2013年，科視達® 攜手德國 PVA TePla 在上海成立了亞洲最大的 德國 PVA TePla 超聲波掃描顯微鏡 上海聯(lián)合實驗室，陳列有德國 PVA TePla 三種不同規(guī)格型號的超聲波掃描顯微鏡主流機型，為廣大用戶提供現場看機服務，技術交流，及樣品外協(xié)測試服務，同時，德國 PVA TePla 的專業(yè)技術人員會經常來此為用戶進行技術培訓和講座。 如有樣品測試服務需求或批量外系測試服務需要，敬請隨時聯(lián)系我們各辦事處銷售人員。 超聲波掃描顯微鏡 SAM/SAT 檢測的主要特性：非破壞性、無損傷檢測各種材料、元器件內部缺陷可無損檢測各種 IC 器件、材料內部缺陷（如裂紋、空氣分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）可分層掃描、多層掃描實施、直觀的圖像及分析缺陷的測量及百分比的計算 - 可精確定位內部缺陷大小、面積與所在位置，并予以著色表示可顯示材料內部的三維圖像該超聲波對人體無害超聲波掃描顯微鏡 SAM/SAT 的主要應用領域 ( 不局限于）：半導體電子行業(yè)：集成電路IC 封裝器件、SMT 貼片器件、LTCC 器件、IGBT 功率器件、...
發(fā)布時間:
2015
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